简单的说,各LTE指标及VOLTE指标肯定都与最基本的RSRP,SINR有直接关系;RSRP弱覆盖,SINR较差,比如说重叠覆盖,频繁切换严重,模三干扰严重,弱覆盖(<-110dBm)严重,都可能导致一系列问题,譬如RRC重建、RRC接入、TAU更新等失败都严重影响MOS,在测试中对应的测量报告以及各切换重选事件都能反映出问题,主要分析MOS打分前8秒无线环境,无线侧主要就覆盖、干扰、高话务、邻区、切换、抖动、丢包等问题影响MOS。
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